스펙트럼 영역 광결맞음 간섭계와 인라인 이중 샘플단을 이용한 두께와 굴절률의 동시 측정

Simultaneous measurements of refractive index and thickness using spectral-domain optical coherence interferometer and in-line dual sample probes

  • 박성준 (광주과학기술원 정보통신공학과) ;
  • 최해룡 (광주과학기술원 정보통신공학과) ;
  • 박관섭 (광주과학기술원 정보통신공학과) ;
  • 주명진 (광주과학기술원 정보통신공학과) ;
  • 이병하 (광주과학기술원 정보통신공학과)
  • 발행 : 2009.10.20