평균 지연 방법을 이용한 고속 공초점 형광수명 이미징

High-speed fluorescence lifetime imaging by analog mean-delay method

  • 원영재 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 문석배 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 김동욱 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 김덕영 (광주과학기술원 정보기전공학부)
  • 발행 : 2009.10.20