Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers (한국전기전자재료학회)
권호 표지

FTS 방법으로 증착한 플랙시블 기판의 Gas barrier 층으로 SiOxNy, SiOx, SiNx 다층박막의 특성

  • Park, Yong-Jin (Department of Electronics Engineering, Catholic University of Daegu) ;
  • Wang, Tae-Hyeon (Department of Electronics Engineering, Catholic University of Daegu) ;
  • Kim, Sang-Heon (Department of Electronics Engineering, Catholic University of Daegu) ;
  • Park, Jeong-Sik (Department of Electronics Engineering, Catholic University of Daegu) ;
  • Ryu, Seong-Won (Department of Electronics Engineering, Catholic University of Daegu) ;
  • Hong, Jae-Seok
  • 박용진 (대구가톨릭대학교, 전자디스플레이 공학과) ;
  • 왕태현 (대구가톨릭대학교, 전자디스플레이 공학과) ;
  • 김상헌 (대구가톨릭대학교, 전자디스플레이 공학과) ;
  • 박정식 (대구가톨릭대학교, 전자디스플레이 공학과) ;
  • 류성원 (대구가톨릭대학교, 전자디스플레이 공학과) ;
  • 홍재석 ((주)CTC)
  • Published : 2009.06.18
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Abstract

본 연구에서 사용한 대향 타겟식 스퍼터링(Facing Targets Sputtering) 법은 일반 스퍼터링 법의 단점을 보완한 고밀도 저온 고속성막이 가능한 장점을 가지고 있기 때문에 플랙시블 디스플레이의 기체 투과 방지막으로 많이 쓰이고 있는 SiOxNy, SiOx, SiNx의 박막을 다층으로 증착하여 polymer 기판 위에 조건에 따라 증착 후 박막의 특성을 연구하였다. 제작된 박막의 광학적 특성을 UV-VIS spectrophotometer(Shimadzu Co.)를 사용하여 200~1100nm의 파장 영역에서 광 투과도를 측정하였으며 박막의 두께와 균일도는 $\alpha$-step(Veeco Co.)을 사용하여 측정하였고, 절대 정량이 가능하고 비파괴 분석법인 RBS(KOBE STEEL LTD.)를 이용하여 표면의 성질을 규명하고 XRR(PANalytical X'Pert PRO)을 분석하여 박막의 계면영역에 대한 물성 변화를 평가하고 박막의 밀도를 측정하였다. SEM(Digital Instrument Co.) 사진을 통해 단면과 표면을 관찰하였고 구조적 특성은 AFM(Digital Instrument Co.)와 XRD(Rigaku Co.) 통해 측정하였고 박막의 성분비는 EDS(JEOL Co.)를 사용하였으며 투습률 측정장치 (MOCON)을 이용하여 WVTR를 측정하였다.

Keywords