Measurement of the deflection of a nanotube cantilever with nanometer accuracy using epi-fluorescence microscopy

형광을 이용한 나노튜브 캔틸레버의 나노미터 굽힘 변위 측정

  • 박효준 (한국과학기술원 기계항공시스템학부 기계공학) ;
  • 권순근 (한국과학기술원 기계항공시스템학부 기계공학) ;
  • 김수현 (한국과학기술원 기계항공시스템학부 기계공학)
  • Published : 2009.06.03