Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2009.07a
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- Pages.1988_1989
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- 2009
Algorithm of the Detection of the Feature points using distributed feature points of the Second Derivative of Photoplethysmogram waveform
이차 미분 맥파의 변곡점 분포를 이용한 특징점 추출 알고리즘
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Kim, Pan-Ki
(Dept. Electrical Engineering, Kwangwoon University)
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Ahn, Chang-Beom
(Dept. Electrical Engineering, Kwangwoon University)
- Published : 2009.07.14
Abstract
본 논문은 이차 미분 맥파(SDPTG, Second Derivation of Photoplethysmogram)를 측정하여 이차 미분 맥파의 5개의 특징점을 검출하는 방법에 대한 내용을 기술한다. 본 논문에서는 측정된 신호의 신호대 잡음비(SNR)을 높이는 방법과 기존의 미분을 이용한 변곡점 추출의 한계적인 부분, 그리고 본 논문에서 제안하는 이차 미분 맥파의 특징점의 분포를 이용한 특징점 추출 알고리즘에 대해서 설명한다.
Keywords