XPS, FTIR, AFM 분석에 의한 유기박막특성

  • 현일섭 (청주대학교 전자정보공학부 반도체설계공학과) ;
  • 한세훈 (청주대학교 전자정보공학부 반도체설계공학과) ;
  • 박현진 (청주대학교 전자정보공학부 반도체설계공학과) ;
  • 오데레사 (청주대학교 전자정보공학부 반도체설계공학과)
  • Published : 2008.08.20