전도성 나노와이어 현미경 탐침 제작 및 특성 평가

  • Kim, Jun-Dong ;
  • Sin, Yeong-Hyeong ;
  • Yun, Ju-Hyeong ;
  • Han, Chang-Su ;
  • Hyeon, Mun-Seop ;
  • Anderson, Wayne A. (University at Buffalo, State University of New York, Department of Electrical Engineering)
  • 김준동 (한국기계연구원 나노기계연구본부) ;
  • 신영형 (한국기계연구원 나노기계연구본부) ;
  • 윤주형 (한국기계연구원 나노기계연구본부) ;
  • 한창수 (한국기계연구원 나노기계연구본부) ;
  • 현문섭 (나노팹센터 특성평가팀) ;
  • Published : 2008.08.20