X-ray Photoelectron Spectroscopy를 이용한 양극 산화된 Ni/Ti 박막의 저항 스위칭 특성에 대한 분석

• 최준혁 (동국대학교 반도체과학과) ;
• 정규호 (동국대학교 반도체과학과) ;
• 김용민 (동국대학교 반도체과학과) ;
• 김형상 (동국대학교 물리학과) ;
• 정웅 (동국대학교 반도체과학과) ;
• 김현정 (동국대학교 반도체과학과) ;
• 임현식 (동국대학교 반도체과학과)

• Choe, Jun-Hyeok ;
• Jeong, Gyu-Ho ;
• Kim, Yong-Min ;
• Kim, Hyeong-Sang ;
• Jeong, Ung ;
• Kim, Hyeon-Jeong ;
• Im, Hyeon-Sik

• 발행 : 2008.02.14

• PDF