타원법을 이용한 LCD 배향막의 배향축 및 광학 이방성 정밀 측정

Accurate Measurement of Optical Anisotropy and Optic Axis for Alignment Layer of LCD by Using Ellipsometry

  • 변영섭 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 최중규 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 류장위 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 신유식 (아주대학교 분자과학기술학과) ;
  • 이재흔 ((주)서울반도체) ;
  • 김상준 ((주)엘립소테크놀러지) ;
  • 김상열 (아주대학교 분자과학기술학과)
  • 발행 : 2008.02.01