Analysis for tightly-focused incident rays in epimicroscopic refractive index measurements

반사현미경의 굴절률 측정에 대한 비수직 입사광의 분석

  • 조승범 (광주과학기술원 정보통신공학과) ;
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  • 김덕영 (광주과학기술원 정보통신공학과)
  • Published : 2008.02.01