Proceedings of the Optical Society of Korea Conference (한국광학회:학술대회논문집)

Optical Society of Korea (한국광학회)
권호 표지

Quantitative phase microscopy using two-dimensional spatial interference system

2차원 공간 간섭계 시스템을 이용한 정량적 위상 현미경

  • 이승락 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 이지용 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • ;
  • 이장혁 (광주과학기술원 정보기전공학부) ;
  • 김덕영 (광주과학기술원 정보기전공학부)
  • Published : 2008.07.01
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Abstract

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