TEM 토모그라피를 이용한 나노와이어의 구조 및 형상 규명

• 김한성 (고려대학교 소재화학과) ;
• 윤상원 (한국과학기술연구원 특성분석센터) ;
• 김규현 (한국과학기술연구원 특성분석센터) ;
• 안재평 (한국과학기술연구원 특성분석센터) ;
• 박정희 (고려대학교 소재화학과)

• Kim, Han-Seong ;
• Yun, Sang-Won (KIST) ;
• Kim, Gyu-Hyeon (KIST) ;
• An, Jae-Pyeong (KIST) ;
• Park, Jeong-Hui

• 발행 : 2007.05.31

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