Designing measuring of the single etalon double edge for doppler wavelength shift measuring system

단일 에탈론을 이용한 도플러 이중경계 도플러 파장 이동 측정 장치 설계 및 검증

  • 김덕현 (한국원자력연구원, 양자광학기술개발센터) ;
  • 차형기 (한국원자력연구원, 양자광학기술개발센터) ;
  • 양기호 (한국원자력연구원, 양자광학기술개발센터) ;
  • 선우정혜 (한공주대학교 물리학과) ;
  • 김용기 (한공주대학교 물리학과)
  • Published : 2007.07.01