한국정보통신학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference)

한국정보통신학회 (The Korea Institute of Information and Commucation Engineering)
권호 표지

개선된 에지검출 특성을 위한 웨이브렛 함수에 관한 연구

A study on Wavelet function for Improved Edge Detection Properties

  • 배상범 (부경대학교 공과대학 전기제어공학부) ;
  • 김남호 (부경대학교 공과대학 전기제어공학부)
  • Bae, Sang-Bum (School of Electrical and Control Eng., Pukyong National Univ.) ;
  • Kim, Nam-Ho (School of Electrical and Control Eng., Pukyong National Univ.)
  • 발행 : 2007.06.01
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초록

영상에서 명암 차이가 큰 두 영역간의 경계를 나타내는 에지는 대상 물체에 대한 다양한 정보를 포함한다. 따라서 영상분할을 비롯한 물체인식 등의 분야에서 이러한 에지정보를 이용하고 있다. 에지는 밝기 변화의 크기와 지속시간 등에 따라 다양한 종류가 있으며, 일반적으로 미분을 통해 검출된다. 최근에는 영상처리와 컴퓨터비전 등의 분야에서, 특정 응용에 적용하기 위한 에지검출 방법들이 제시되고 있다. 따라서 본 논문에서는 개선된 에지검출 특성을 위한 웨이브렛 함수를 제안하여, 영상의 라인-에지 성분을 검출하였으며, 시뮬레이션을 통해 그 성능을 확인하였다.

Edge representing the boundary between two regions with the large brightness difference in image includes diverse information about object. Therefore, this information has been utilized in fields such as image segmentation and object recognition. There are many kinds of edge in according to duration time and the amplitude of brightness variation, and edge is generally detected through the differential. Recently, in fields of image processing and computer vision, edge detection methods have been proposed to use in specific applications. Hence, in this paper the wavelet function for improved edge detection properties was proposed and detected line-edge components of images and its performance was proven through simulations.

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