정밀 현미경을 이용한 LCD 공정 관리용 선폭 시편 측정

Measurements of Linewidth Specimen for the Control of LCD Manufacturing Process using Precision Microscopes

  • 김종안 (한국표준과학연구원 기반표준부 길이/시간 그룹) ;
  • 김재완 (한국표준과학연구원 기반표준부 길이/시간 그룹) ;
  • 강주식 (한국표준과학연구원 기반표준부 길이/시간 그룹) ;
  • 엄태봉 (한국표준과학연구원 기반표준부 길이/시간 그룹)
  • 발행 : 2007.06.20