박막의 두께형상 및 굴절률 측정

Thin-film Measurements of thickness profile and refractive index

  • 주우덕 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 김영식 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 유준호 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 김승우 (한국과학기술원 기계공학과)
  • 발행 : 2007.11.08