Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Image Matching Techniques for Electronic Component Inspection

전자부품조립검사를 위한 영상 정합 방법 비교

  • Cho, Han-Jin (Dept. of Control and Instrumentation Eng., CBITRC, Chungbuk National University) ;
  • Park, Tae-Hyoung (Dept. of Control and Instrumentation Eng., CBITRC, Chungbuk National University)
  • 조한진 (충복대학교 제어계측공학과 및 CBITRC) ;
  • 박태형 (충복대학교 제어계측공학과 및 CBITRC)
  • Published : 2007.10.26
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Abstract

본 논문은 표면실장기판을 위한 자동 광학 검사 시스템에서 사용되는 알고리즘을 종류 별로 비교 분석한다. 비교된 부품 검사 알고리즘은 공간영역에서의 템플릿 매칭 방법을 사용한다. 각 방법에는 장단점이 있으며 주된 비교항목은 검사 속도와 검사 정확도에 대한 비교 분석을 한다. 비교 및 분석을 통해 부품검사 알고리즘의 속도 및 정확도 향상의 방향을 제시한다. 실험 결과를 제시하여 비교된 알고리즘의 성능을 검증한다.

Keywords