Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Masked Fake Face Detection by Measuring Infrared Light Reflection

적외선 반사율 측정을 이용한 가면 착용 위변조 얼굴 검출

  • Kim, Young-Shin (School of Information and Communication Engineering Sungkyunkwan University) ;
  • Na, Jae-Keun (School of Information and Communication Engineering Sungkyunkwan University) ;
  • Yoon, Seong-Beak (School of Information and Communication Engineering Sungkyunkwan University) ;
  • Yi, June-Ho (School of Information and Communication Engineering Sungkyunkwan University)
  • 김영신 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 나재근 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 윤성백 (성균관대학교 정보통신공학부) ;
  • 이준호 (성균관대학교 정보통신공학부)
  • Published : 2007.10.26
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Abstract

특수 분장을 이용하여 매우 정교하게 제작된 가면을 쓴 얼굴 위변조의 경우 일반적인 밝기 영상으로는 검출이 용이하지 않다. 최근의 획기적인 특수 분장 기술 발전을 고려할 때 성공적인 얼굴 인식시스템 개발을 위해 가면을 쓴 얼굴 위변조 검출 연구는 매우 중요하다. 본 연구에서는 물질의 재질에 따른 반사율의 차이를 기반으로 가면을 착용하는 얼굴 위변조를 검출하는 방법을 제안한다. 우선 알비도(albedo)에 착안하여 여러 파장대의 조명에 대해 실험하였다. 실제 얼굴 인식 시스템의 적용 환경을 고려할 때 알비도를 단순히 빛의 반사량으로 간략화 할 수 있음을 보였고, 실험결과 850nm 적외선 조명이 적합하다는 결론을 얻었다.

Keywords