Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Defects detection of TCP / COF using real-time line scanner

실시간 라인 스캐너를 이용한 TCP / COF의 불량 검출

  • Kim, Yong-Sam (Dept. of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University) ;
  • Moon, Hee-Jeong (Dept. of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University) ;
  • Song, Chang-Kyu (CBNU BK21 Chungbuk Information Technology Center) ;
  • Chun, Myung-Geun (Dept. of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University)
  • 김용삼 (충북대학교 전기전자컴퓨터공학부) ;
  • 문희정 (충북대학교 전기전자컴퓨터공학부) ;
  • 송창규 (충북대학교 BK21 충북정보기술사업단) ;
  • 전명근 (충북대학교 전기전자컴퓨터공학부)
  • Published : 2007.10.26
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Abstract

본 논문에서는 반도체 패키징 기술의 일종인 TCP와 COF의 패턴 결함을 검출하는 영상 처리 알고리즘을 제안한다. 제안된 방법은 우선, TCP와 COF의 양품 패턴을 기준 영상으로 취득한다. 라인 스캐너에서 취득된 실시간 영상을 그레이로 변환한 후, 평균화 필터를 적용하고 임계값을 이용해서 검사하고자 하는 필름 영상의 이진화를 수행한다. 이진화 된 기준 영상과 검사하고자 하는 필름 영상을 이용해서 차영상을 구한 후에 라벨링을 하여 필름의 불량을 검출하게 된다. 제안된 패턴 매칭 방법이 TCP와 COF의 다양한 불량 항목 중에서 10여 가지의 불량 패턴을 대상으로 제안된 방법의 타당성을 검증하였다.

Keywords