Low angle forward reflection 중성빔 식각 장비를 이용한 high-k 유전체 물질의 식각 특성 관찰

  • 김성우 (성균관대학교 공과대학 신소재공학부) ;
  • 박병재 (성균관대학교 공과대학 신소재공학부) ;
  • 민경석 (성균관대학교 공과대학 신소재공학부) ;
  • 염근영 (성균관대학교 공과대학 신소재공학부)
  • Published : 2007.02.06