대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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- Pages.1805-1806
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- 2007
유전자 알고리즘과 일반화된 회귀 신경망을 이용한 박막 전하밀도 예측모델
Modeling of Charge Density of Thin Film Charge Density by Using Neural Network and Genetic Algorithm
- Kwon, Sang-Hee (Sejong University) ;
- Kim, Byung-Whan (Sejong University)
- 발행 : 2007.07.18