Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2006.05a
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  • Pages.673-676
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  • 2006
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
권호 표지

Method of the Semi-Automation Camera Calibration for Noncontact Measure of Badly Illumination

불균등 조명에서 비접촉 계측을 위한 반자동 카메라 교정 방법

  • Kim Jeong-Hyun (Dept of Mechatronics Engineering, Tongmyong University) ;
  • Lee Ju-Yong (Dept of Mechatronics Engineering, Tongmyong University) ;
  • Kim Dae-Gyung (Dept of Mechatronics Engineering, Tongmyong University) ;
  • Kim Min-Seong (Dept of Information Communication Engineering, Tongmyong University) ;
  • Lee Se-Ho (Sedong Corporation Company) ;
  • Kang Dong-Joong (Dept of Mechatronics Engineering, Tongmyong University)
  • 김정현 (동명대학교 메카트로닉스공학과) ;
  • 이주영 (동명대학교 메카트로닉스공학과) ;
  • 김대광 (동명대학교 메카트로닉스공학과) ;
  • 김민성 (동명대학교 정보통신공학과) ;
  • 이세호 (주식회사 세동) ;
  • 강동중 (동명대학교 메카트로닉스공학과)
  • Published : 2006.05.01
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Abstract

본 논문은 산업현장의 불균등한 조명 조건에서 정확한 카메라 교정을 수행할 수 있는 방법을 제안한다. 비접촉 계측을 위한 카메라 교정법은 패턴에서 교정점들을 정확하게 추출할 수 있어야 하며, 평면 패턴을 사용하는 교정 방법은 최소 7개의 교정점을 알아야 한다. 그러나 비접촉 치수 계측기가 설치된 산업현장에서 카메라 교정에 알맞은 조명을 기대하기 힘들다. 본 논문에서는 최적조명제어가 어려운 산업현장에서 치수계측을 위한 카메라 교정을 효과적으로 수행할 수 있는 반자동 카메라 교정방법을 제안한다. 교정패턴상의 최소 4점을 사용자가 지정함에 의해, 조명제어의 어려움으로 인해 교정점 추출이 실패한 교정패턴의 불완전 교정점을 사용하여 이상적인 조명상태에서의 교정점 정보를 예측하고, 이 정보로부터 다시 정확한 교정인자들을 반복적으로 추출하는 방법을 적용한다. 제시된 방법은 렌즈의 투사왜곡에 의한 교정패턴에서도 성공적으로 적용될 수 있음을 실험을 통해 확인하였다.

Keywords