Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2006.05a
  • /
  • Pages.245-248
  • /
  • 2006
  • /
  • 2005-0011(pISSN)
  • /
  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
권호 표지

A Study on Analysis Risk Factors to Based-Risk Testing In 3th Party Test Organization

위험기반 테스트에서 제 3자 시험기관의 위험요소 분석 연구

  • Lee Sang-Bok (SW Quality Evaluation Center Telecommunications Technology Association) ;
  • Kim Ki-Du (SW Quality Evaluation Center Telecommunications Technology Association) ;
  • Park Jeong-Hwan (SW Quality Evaluation Center Telecommunications Technology Association) ;
  • Shin Seck-Kyoo (SW Quality Evaluation Center Telecommunications Technology Association)
  • 이상복 (한국정보통신기술협회 SW시험인증센터) ;
  • 김기두 (한국정보통신기술협회 SW시험인증센터) ;
  • 박정환 (한국정보통신기술협회 SW시험인증센터) ;
  • 신석규 (한국정보통신기술협회 SW시험인증센터)
  • Published : 2006.05.01
Download PDF
⟨ Previous Next ⟩

Abstract

본 논문은 제 3자 시험 기관의 시험 인증 서비스에 내포한 잠재적 문제점을 유발시키는 위험요소를 식별 및 분석한다. 식별 및 분석한 위험요소를 기반으로 테스트 계획 및 수행하여 이전 보다 신뢰성 높아진 시험 인증서비스를 제공할 수 있다. 또한 위험요소를 제거하거나 최소화할 수 있는 개선 활동을 간략하게 제시하고, 발생할 수 있는 위험요소를 기술한다.

Keywords