대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)
- 대한전기학회 2006년도 추계학술대회 논문집 전기기기 및 에너지변환시스템부문
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- Pages.203-205
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- 2006
공진회로를 이용한 직렬연결 전력용 반도체 소자의 밸브 시험 시스템
A valve test system for series connected power semiconductor using resonant circuit
- 유현호 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 한영성 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 한세희 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 최종윤 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 김준모 ((주)효성 중공업연구소) ;
- 김수열 (한전 전력연구원) ;
- 윤종수 (한전 전력연구원)
- Yoo, H.H. (Hyosung Corporation) ;
- Han, Y.S. (Hyosung Corporation) ;
- Han, S.H. (Hyosung Corporation) ;
- Choi, J.Y. (Hyosung Corporation) ;
- Kim, J.M. (Hyosung Corporation) ;
- Kim, S.Y. (KEPRI) ;
- Yoon, J.S. (KEPRI)
- 발행 : 2006.10.19