(${\gamma}$ -FIB system을 이용한 AC-PDP에서의 MgO보호막의 Sputtering Yield 측정)

  • 이혜정 (광운대학교 전자물리학과 PDP Research Center) ;
  • 박원배 (광운대학교 전자물리학과 PDP Research Center) ;
  • 최은하 (광운대학교 전자물리학과 PDP Research Center)
  • Published : 2005.02.15