Label-free ToF-SIMS Chemical Imaging Analysis for Micropatterns of Proteins and Cells

  • 손현경 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) ;
  • 이경복 (카이스트 화학과) ;
  • 김진모 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) ;
  • 최인성 (카이스트 화학과) ;
  • 이재철 (삼성종기원) ;
  • 문대원 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) ;
  • 한상윤 (한국표준과학연구원 나노표면그룹) ;
  • 이태걸 (한국표준과학연구원 나노표면그룹)
  • Published : 2005.02.15