X-선 형광분석기를 이용한 지질시료의 미량원소분석법

  • 박찬수 (기초과학지원연구원 유해물질분석팀) ;
  • 윤철호 (기초과학지원연구원 유해물질분석팀) ;
  • 김성일 (송지산업) ;
  • 이재형 (화학시험연구원 유해성평가본부)
  • Published : 2005.05.27