Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2005.11a
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  • Pages.365-368
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  • 2005
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
권호 표지

A Analysis Pattern of Defect with SW Quality Characteristics

SW 품질 특성 별 결함 유형 분석

  • Published : 2005.11.18
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Abstract

최근 소프트웨어 산업에서 소프트웨어 품질이 화두가 되고 있으며 소프트웨어 제품 개발 시 소프트웨어 품질 및 시험 개념을 적용하지 않으면 소프트웨어 시장에서 외면될 가망성이 높아지고 있다. 그로 인해 TTA SW 시험인증 센터에서 소프트웨어 품질을 높이기 위해 GS 시험인증을 서비스 하고 있다. 소프트웨어 시험을 통한 결함 분석을 통해 소프트웨어 제품 개발 시 개발 프로세스에 반영하고 개발자가 소프트웨어 제품을 구현 시 결함에 대한 분석정보를 활용할 수 있도록 소프트웨어 품질특성 중 결함이 많이 발생하는 부분에 결함 유형을 정의하고 사전에 방지할 수 있는 해결방법을 제시한다.

Keywords