Annual Conference of KIPS (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2005.05a
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  • Pages.623-626
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  • 2005
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
권호 표지

Embedded Software Test Method Using I/O Value Manipulation

입출력 변수 조작에 의한 임베디드 소프트웨어 테스트 방법

  • Kim, Dae-Woo (Graduate School of Information and Communication, Ajou University) ;
  • Jung, Ki-Hyun (Division of Electronics Engineering, Ajou University) ;
  • Choi, Kyung-Hee (Graduate School of Information and Communication, Ajou University)
  • 김대우 (아주대학교 정보통신전문대학원 정보통신공학과) ;
  • 정기현 (아주대학교 전자공학부) ;
  • 최경희 (아주대학교 정보통신전문대학원 정보통신공학과)
  • Published : 2005.05.13
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Abstract

임베디드 소프트웨어가 날이 갈수록 그 규모가 커지고 복잡해짐에 따라 임베디드 소프트웨어의 품질에 대한 검증 및 테스트는 중요한 문제로 부각하고 있다. 임베디드 소프트웨어의 신뢰성을 확보와 비용절감을 위한 테스트 자동화 시스템의 개발이 필요하다. 이 문서는 테스트 자동화 시스템을 구축하는 과정에서 테스트 대상인 임베디드 시스템의 입출력 변수들의 조작을 통하여 시스템 의존적인 부분을 효과적으로 일반화 시키는 방법을 제시한다. 이 방법을 통하여 테스트 명령을 간소화 할 수 있었으며 테스트 자동화 시스템의 모델을 보다 일반적이고 쉽게 표현할 수 있었다.

Keywords