Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference (한국정보통신학회:학술대회논문집)
- Volume 9 Issue 2
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- Pages.873-876
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- 2005
A New Current Transient Testing for Wideband CMOS Op Amps
광대역 CMOS 연산 증폭기를 위한 새로운 전류 전이 검사방식
- Ryu, Jee-Youl (Samsung SDI Co., Ltd.) ;
- Noh, Seok-Ho (Andong National University)
- Published : 2005.10.28
Abstract
This paper presents a new current transient test technique for wideband CMOS Op Amps. This technique monitors the transient power supply current and output responses of the CMOS Op Amp to automatically differentiate faulty and fault-free op amps. The wideband op amp is designed using 0.25
본 논문은 광대역 CMOS 연상증폭기를 위한 새로운 전류 전이 검사 기술을 제안한다. 본 검사 방법에서는 결함이 있는 연산증폭기와 결함이 없는 연산 증폭기를 자동적으로 구별해 내기 위해 증폭기의 공급 전원으로부터 순간적으로 변하는 전류와 출력응답을 측정한다. 광대역 CMOS 연산증폭기는 0.25