광대역 CMOS 연산 증폭기를 위한 새로운 전류 전이 검사방식

A New Current Transient Testing for Wideband CMOS Op Amps

본 논문은 광대역 CMOS 연상증폭기를 위한 새로운 전류 전이 검사 기술을 제안한다. 본 검사 방법에서는 결함이 있는 연산증폭기와 결함이 없는 연산 증폭기를 자동적으로 구별해 내기 위해 증폭기의 공급 전원으로부터 순간적으로 변하는 전류와 출력응답을 측정한다. 광대역 CMOS 연산증폭기는 0.25${\mu}$m CMOS 공정을 이용하여 설계되었다. 이 검사 기술은 CMOS 연산증폭기내에서 발생한 거폭결함 (catastrophic faults)을 검출하고 분석할 수 있으며, 검사비용이 저렴하고 측정방법이 간단하다.

This paper presents a new current transient test technique for wideband CMOS Op Amps. This technique monitors the transient power supply current and output responses of the CMOS Op Amp to automatically differentiate faulty and fault-free op amps. The wideband op amp is designed using 0.25${\mu}$m CMOS technology. We present detailed simulation results for a wideband op amp. We show that catastrophic faults in op amps can be detected and analyzed by monitoring power supply currents and output responses. This technique is inexpensive and simple.