한국전자현미경학회:학술대회논문집
- 한국현미경학회 2005년도 제36차 추계학술대회 및 제4회 HVEM 이용자 워크샵
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- Pages.170-174
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- 2005
FIB 기술을 이용한 $SiC_f/SiC$ 복합체내 휘스커 혼합 기지상의 투과전자현미경 관찰
FIB-assisted TEM observation of whisker-grown matrix in $SiC_f/SiC$ composite
- 박경환 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
- 조해동 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
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김원주
(한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
- 강석민 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
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류우석
(한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
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박지연
(한국과학기술원) ;
- 박경진 (나노펩종합센터) ;
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양준모
(나노펩종합센터) ;
- 김정우 (나노펩종합센터)
- Park, Gyeong-Hwan ;
- Jo, Hae-Dong ;
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Kim, Won-Ju
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- Gang, Seok-Min ;
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Ryu, U-Seok
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Park, Ji-Yeon
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- Park, Gyeong-Jin ;
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Yang, Jun-Mo
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- Kim, Jeong-U
- 발행 : 2005.11.01