FIB-assisted TEM observation of whisker-grown matrix in $SiC_f/SiC$ composite

FIB 기술을 이용한 $SiC_f/SiC$ 복합체내 휘스커 혼합 기지상의 투과전자현미경 관찰

  • 박경환 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
  • 조해동 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
  • 김원주 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
  • 강석민 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
  • 류우석 (한국원자력연구소 원자력재료기술개발부) ;
  • 박지연 (한국과학기술원) ;
  • 박경진 (나노펩종합센터) ;
  • 양준모 (나노펩종합센터) ;
  • 김정우 (나노펩종합센터)
  • Published : 2005.11.01