한국전자현미경학회:학술대회논문집
- 한국현미경학회 2005년도 제36차 춘계학술대회 및 제3회 HVEM 이용자 워크샵
- /
- Pages.130-131
- /
- 2005
Structural Analysis of N-doped $Ge_2Sb_2Te_5$ Material for Phase Change Memory by Transmission Electron Microscopy
- 박주철 (삼성종합기술원 Analytical Engineering Center) ;
- 박종봉 (삼성종합기술원 Analytical Engineering Center) ;
- 이장호 (삼성종합기술원 Analytical Engineering Center) ;
- 박경수 (삼성종합기술원 Analytical Engineering Center) ;
- 호리이 (삼성전자 Memory Division) ;
- 박순오 (삼성전자 Memory Division) ;
- 고관협 (삼성전자 Memory Division) ;
- 정홍식 (삼성전자 Memory Division)
- Park, Ju-Cheol ;
- Park, Jong-Bong ;
- Lee, Jang-Ho ;
- Park, Gyeong-Su ;
- Ho, Ri-Lee ;
- Park, Sun-O ;
- Go, Gwan-Hyeop ;
- Jeong, Hong-Sik
- 발행 : 2005.05.01