한국정보과학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Information Science Society Conference)
- 한국정보과학회 2005년도 가을 학술발표논문집 Vol.32 No.2 (2)
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- Pages.379-381
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- 2005
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- 1598-5164(pISSN)
볼륨 테스트를 위한 케이스 구조 및 볼륨 증가 패턴
Test Case Structure and Volume Increment Pattern for Volume Test
- Lee, Bok-Yeon (Software Laboratory, Samsung Electronics) ;
- Shin, Seog-Jong (Software Laboratory, Samsung Electronics) ;
- Jeon, Seong-Hee (Software Laboratory, Samsung Electronics)
- 발행 : 2005.11.01