Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2005.07b
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- Pages.1512-1514
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- 2005
Analysis of the breakdown degradation of thyristor due to the aging test
사이리스터의 가속열화에 따른 항복전압 특성
- Lee, Y.J. (Jinju National University) ;
- Seo, K.S. (KERI) ;
- Kim, H.W. (KERI) ;
- Kim, K.H. (KERI) ;
- Kim, S.C. (KERI) ;
- Kim, N.K. (KERI) ;
- Kim, B.C. (Jinju National University)
- 이양재 (진주산업대학교) ;
- 서길수 (한국전기연구원) ;
- 김형우 (한국전기연구원) ;
- 김기현 (한국전기연구원) ;
- 김상철 (한국전기연구원) ;
- 김남균 (한국전기연구원) ;
- 김병철 (진주산업대학교)
- Published : 2005.07.18
Abstract
사이리스터의 파괴 원인에는 온도, 전압, 전류, 진동 및 압력 등이 있다. 본 논문에서는 이러한 파괴원인들 중에서 전압과 온도를 스트레스 인자로 하여 가속열화에 따른 소자의 항복전압 특성의 변화에 대해 실험을 통해 분석하였다. 실험에 사용한 사이리스터는