Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2005.07c
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- Pages.1896-1897
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- 2005
Study on the measuring uncertainty of wide band PD measuring instrument
Wide band 측정기를 이용한 PD계측에서 측정신뢰도의 추정에 관한 연구
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Jeong, Jung-Il
(Korea Electrotechnology Research Institute)
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- Kim, Jong-Hyung (Korea Electrotechnology Research Institute) ;
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Shon, Hwa-Young
(Korea Electrotechnology Research Institute)
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Kim, Kyu-Sub
(Korea Electrotechnology Research Institute)
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Huh, Chang-Su
(Inha Univ.)
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정중일
(한국전기연구원 전기기시험부)
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- 김종형 (한국전기연구원 전기기시험부) ;
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손화영
(한국전기연구원 전기기시험부)
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김규섭
(한국전기연구원 전기기시험부)
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허창수
(인하대학교 전자전기공학부)
- Published : 2005.07.18
Abstract
보이드, 이물, 돌기 둥 고분자 절연체 내의 결함은 이곳에 전계가 가해질 때, 국부적 전계집중을 유발하며, 절연체 내의 미소 방전을 일으킨다. 이 때 발생한 미소 방전에 의해 보이드 표면의 고분자 물질은 기계적, 화학적 열화를 일으키며, 이에 따라 전기적 트리를 형성하게 된다. 이러한 트리는 결국 절연체의 절연파괴로 진전되므로, 고분자 물질을 절연물로 사용하는 전력기기의 경우에는 신뢰성에 큰 문제를 유발한다. 따라서, 이러한 방전(부분방전)이 일어날 때 생기는 전기적 신호를 검출하여, 절연물의 신회성을 평가하는 것은 매우 중요하다. 이러한 부분방전은 IEC둥 국제기술기준에 그 제한 값이 정하여져 있으며, 본 논문에서는 이러한 값을 수학적으로 평가하는 방법에 대해 연구하였다.
Keywords