나노 결함 측정을 위한 양전자수명 장치의 최적화

  • 김재홍 (원자력의학원 사이클로트론 응용연구실) ;
  • 양태건 (원자력의학원 사이클로트론 응용연구실) ;
  • 이동훈 (원자력의학원 사이클로트론 응용연구실) ;
  • 전권수 (원자력의학원 사이클로트론 응용연구실) ;
  • 이종용 (한남대학교 물리학과)
  • Published : 2004.08.19