광섬유탐침의반사면이용근접장주사광학위상현미경

Near-field scanning optical phase microscope using the reflective nano-facet of a tapered optical fiber

  • 유장훈 (연세대학교 이과대학 물리학과) ;
  • 임상엽 (연세대학교 이과대학 물리학과) ;
  • 양재석 (연세대학교 이과대학 물리학과) ;
  • 이재훈 (연세대학교 이과대학 물리학과) ;
  • 박승한 (연세대학교 이과대학 물리학과)
  • 발행 : 2004.07.08