한국전자현미경학회:학술대회논문집
- 한국현미경학회 2004년도 제35차 춘계학술대회
- /
- Pages.23-25
- /
- 2004
Specimen Preparation For Electron Microscopy Of Materials On The Nano And Atomic Scales
- Cerchiara, R.R. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Fischione, P.E. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Gronsky, J.J. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Hein, W.H. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Martin, D.D. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Matesa, J.M. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Robins, A.C. (E. A. Fischione Instruments, Inc.) ;
- Smith, D.W. (E. A. Fischione Instruments, Inc.)
- 발행 : 2004.05.01