열전모듈의 가속수명시험과 고장분석을 통한 신뢰도 예측

  • 최형석 (요업기술원 신뢰성평가분석센터) ;
  • 이태원 (요업기술원 신뢰성평가분석센터) ;
  • 이영호 (요업기술원 신뢰성평가분석센터) ;
  • 이명현 (요업기술원 신뢰성평가분석센터) ;
  • 서원선 (요업기술원 신뢰성평가분석센터)
  • Published : 2004.07.01

Abstract

본 논문에서는 가속 수명 시험을 통하여 열전소자의 수명 분포, 모수 등을 규명하였으며 고장 분석을 통하여 열전 소자의 수명 증가를 위한 대책 방안을 논의하였다. 가속 수명 시험 결과 열전 소자는 형상 모수 3,6인 Weibull 분포를 따름을 알 수 있었다. 열전 소자가 반도체 부품임에도 불구하고 형상 모수가 큰 이유는 반복 Bending에 의한 피로 파괴가 발생하기 때문임을 고장 분석을 통하여 규명하였다. 위의 고장 메커니즘을 설명할 수 있는 가속 모델식은 Coffin-Manson식으로 설명되어 질 수 있으며 가속수명시험 결과 재료 상수는 1.8임을 알 수 있었다.

Keywords