고분해능 X-선 RSM을 이 용한 InAs/GaAs 다중 양자점(quantum dot)의 구조특성 평가

  • 김창수 (한국표준과학연구원 소재특성평가센타) ;
  • 이상준 (한국표준과학연구원 소재특성평가센타) ;
  • 노삼규 (한국표준과학연구원 소재특성평가센타) ;
  • 이광재 (목원대학교 물리학과) ;
  • 최용대 (목원대학교 물리학과)
  • Published : 2003.11.01