고분해능 방사광 X-선 회절을 이용한 박막 구조분석

  • 장창환 (포항산업과학연구원 시험분석팀) ;
  • 노명근 (연세대학교 물리학과) ;
  • 조만호 (한국표준과학연구원 물질량표준부) ;
  • 박소아 (연세대학교 물리학과)
  • Published : 2003.11.01