Quality Measurement Process Management Using Defect Data of Embedded SW

Embedded SW의 품질 측정 프로세스 관리 방법에 관한 연구

The time to market and productivity of embedded system needs a quality measurement process management of embedded software. But, defect management without preemptive analysis or prediction is not useful for quality measurement process management. This subject is focused on the defect that is one of the most important attributes of software measure in the process. Defining of defect attribute and quality measurement process management is according to understanding of embedded sw characteristics and defect data. So, this study contributes to propose the good method of the quantitative based on defect management in the test phase of sw lifecycle.

Embedded 소프트웨어의 품길 측정 프로세스 관리는 Embedded 시스템의 적시성과 품질 만족을 위해서도 필요하다. 그러나, Embedded 소프트웨어의 결함에 대하여 사전 분석하거나 예측 없이 개발 프로세스 상에서 결함을 관리하는 것은 위험이 따른다. 본 연구에서는 Embedded 소프트웨어에서 품질 측정 프로세스 관리를 위해 소프트웨어의 정량적 속성 중에 가장 중요한 요소 중에 하나인 결함을 중심으로 본 연구가 진행되었다. Embedded 소프트웨어에 가장 적합한 프로세스를 정의하고 개선하고자 하는 과정에서, 프로세스 관리를 효과적으로 수행하기 위해 Embedded 소프트웨어의 특성과 결함 특성을 이해하고, 이를 근간으로 결함 속성을 정의하고 결함을 통한 품질 측정 프로세스 관리를 할 수 있도록, 결함 데이터를 이용하여 프로세스를 관리하는데 기여하고자 한다. 따라서, 본 연구에서는 결함 데이터 분석을 위해 필요한 속성을 파악하고, 테스트 단계를 중심으로 결함 데이터의 활용과 결함데이터를 이용한 프로세스 관리 방법을 제안하여, 이를 통해 Embedded 소프트웨어 프로세스를 관리하는 분들에게 효과적인 활용이 될 수 있도록 한다.