YIQ기법과 위치 정보를 이용한 과일의 결점 검출 및 등급 분류

  • 이병선 (한밭대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 구상훈 (한밭대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 이은주 (한밭대학교 컴퓨터공학과)
  • Published : 2003.06.01