대한전자공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the IEEK Conference)

대한전자공학회 (The Institute of Electronics and Information Engineers)
권호 표지

고해상도 라인 스캔 카메라를 이용한 LCD 점 이물 검출

Inspection of Point Defects on A LCD panel Using High Resolution Line Cameras

  • 백승일 (경북대학교 대학원 전자공학과) ;
  • 곽동민 (경북대학교 대학원 전자공학과) ;
  • 박길흠 (경북대학교 대학원 전자공학과)
  • 발행 : 2003.11.01
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초록

To inspect point-defect in LCD pannel, calculate period and eliminated pattern. And then find point-defect to compare block image with each period. First processing, Founded over point defects. To reduce wrong point defect. Next, label point-defects and eliminated not surpass fixed limit-size.

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