Fault Based Cryptanalysis of AES

AES에 대한 오류기반 공격

스마트카드와 같은 장치의 부채널 공격이 가능한 것으로 입증되면서 많은 연구가 진행되고 있다. 부채널 공격의 일종인 오류기반 공격은 구현 가능성이 논란의 대상이었지만 카메라 플래쉬를 이용한 광학적 공격이 보고되면서 실현 가능성이 높은 것으로 인식되고 있다. 본 논문에서는 AES에 대해 향상된 오류기반 공격을 제안한다. 제안된 방법을 사용하면 공격에 필요한 암호문 수를 기존 방법보다 많이 줄일 수 있으며 최적의 조건에서는 하나의 암호문만으로 키를 얻을 수 있다. 오류는 일시적으로 생긴 후 없어지는 유형을 사용할 수도 있고 영구적인 것일 수도 있다. 오류에 의한 변경 확률이 1이 아닌 경우와 오류 발생 시점의 오차에 대해서도 살펴본다.