(${\gamma}$-FIB 장치를 이용한 p-InP(100) 기판 위에 성장한 Ni 박막의 일함수 측정

• O, Hyeon-Ju ;
• Hyeon, Jeong-U ;
• Lee, Ji-Hun ;
• Im, Jae-Yong ;
• Choe, Eun-Ha ;
• Kim, Tae-Hwan ;
• Gang, Seung-Eon ;
• Yu, Geon-Ho ;
• Yun, Yeong-Su

• 오현주 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 현정우 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 이지훈 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 임재용 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 최은하 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 김태환 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 강승언 (광운대학교 전자물리학과 대전입자빔 연구실) ;
• 유건호 (경희대학교 물리학과) ;
• 윤영수 (한국과학기술원 박막기술연구센터)

• Published : 2002.06.27

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