이온 조사된 Cu/Ni/Cu(002)/Si 자성박막에 있어서 X-ray reflectivity를 이용한 계면 연구

• Kim, Tae-Gon ;
• Song, Jong-Han ;
• Lee, Taek-Hwi ;
• Chae, Geun-Hwa ;
• Jeon, Gi-Yeong ;
• Lee, Jae-Yong ;
• Jeong, Gwang-Ho ;
• Hwang, Jeong-Nam ;
• Lee, Jun-Sik ;
• Lee, Gi-Bong

• 김태곤 (한국과학기술연구원) ;
• 송종한 (한국과학기술연구원) ;
• 이택휘 (한국과학기술연구원) ;
• 채근화 (한국과학기술연구원) ;
• 전기영 (연세대학교 물리 및 응용물리학과) ;
• 이재용 (연세대학교 물리 및 응용물리학과) ;
• 정광호 (연세대학교 물리 및 응용물리학과) ;
• 황정남 (연세대학교 물리 및 응용물리학과) ;
• 이준식 (포항공과대학교 물리학과) ;
• 이기봉 (포항공과대학교 물리학과)

• Published : 2002.06.27

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