Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)
- 2002.05a
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- Pages.202-205
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- 2002
The Analysis of Electric characteristics by Voltage Stress in Polycrystalline Silicon Thin Film Transistor
다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서 DC 전압 스트레스에 의한 전기적 특성의 분석
- Chang, Won-Soo (Dept. of Electronics Eng. Dongeui University) ;
- Jung, Eun-Sik (Dept. of Electronics Eng. Dongeui University) ;
- Jung, Yon-Shik ;
- Lee, Yong-Jae (Dept. of Electronics Eng. Dongeui University)
- Published : 2002.05.11
Abstract
본 논문은 계속적인 소자의 이용은 전기적인 스트레스까지 야기시키는데, 특히 게이트에 인가되는 전압이나 전류 스트레스는 게이트 산화 막의 열화를 야기 시킬 수 있다. 유리기판위에 저온(
Keywords